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Internationaler Metrologiekongress 2007 in Lille (14.02.2007)

Der 13. Internationale Metrologiekongress wird vom College Francais de Metrologie mit großer internationaler Beteiligung (OIML, NPL aus Großbritannien, NMi aus den Niederlanden, SP aus Schweden, LNE aus Frankreich, METAS aus der Schweiz) vom 18. bis 21. Juni 2007 in Lille, Frankreich, organisiert.
Dieser Kongress findet alle 2 Jahre statt und gilt als größte Metrologie-Veranstaltung Europas mit zahlreichen Vortragenden und Fachleuten aus den Bereichen Industrie und Technik, Umwelt und Chemie sowie Gesundheit und Medizin. In diesem Jahr wird auch das BEV mit 2 Präsentationen vertreten sein.

Ziel des Kongresses ist es, Messverfahren durch den Informationsaustausch zwischen Metrologie-Experten von Firmen und wissenschaftlichen Laboratorien ständig zu verbessern. Eine Ausstellung von Messausrüstungen und Messdienstleistungen ist dem Kongress angeschlossen. Beim diesjährigen Kongress werden rund 800 Teilnehmer aus über 45 Ländern erwartet.

Mehr Information:

http://www.cfmetrologie.com/congres_en.php

 

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