Chinesische Delegation zu Besuch im BEV 01.10.2025 - Vergangene Woche besuchte eine chinesische Delegation unter der Leitung von Dr. Ping Yang das Amtsgebäude Arltgasse des Bundesamtes für Eich- und Vermessungswesen ­– BEV in Wien.

Die Delegation vom National Institute of Metrology (NIM) umfasste neben dem Vizedirektor Dr. Ping Yang, auch Dr. Jiangtao Zhang, Dr. Jinyuan Li, Dr. Lei Du und Dr. Manhong Hu. Im Rahmen des Besuchs besichtigten die Gäste mehrere Labors des BEV, darunter die Bereiche Masse, elektrische Größen (Widerstand und Spannung), E-Ladestationen sowie Kinematik im Straßenverkehr. Hier präsentierten Fachexpertinnen und -experten des BEV ihr technisches Know-how und führten im Zuge von Laborführungen ausführliche Gespräche mit der Delegation.

Am zweiten Tag des Besuches begrüßte Vizepräsident des BEV und Leiter der Gruppe Eichwesen, Mag. Robert Edelmaier, die chinesischen Gäste und gab eine Einführung zur Geschichte und den Aufgabenfeldern des BEV. Im Anschluss setzten sich die Expertengespräche fort, wobei auch Vertreter des NIM einen Überblick über ihr Institut und dessen Fachgebiete gaben.

In konstruktiven Diskussionen wurden mögliche Kooperationsfelder zwischen BEV und NIM besprochen. Das Treffen wurde mit der Unterzeichnung des technischen Protokolls und einem gemeinsamen Gruppenfoto abgeschlossen.

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Foto: © BEV / Bernhard Rotter
Chinesische_Delegation_zu_Besuch_Gruppenfoto
Foto: © BEV / Bernhard Rotter